Oblea de silicio de 8 polgadas tipo P/N (100) 1-100Ω substrato de recuperación ficticio

Oblea de silicio de 8 polgadas Tipo P/N (100) 1-100Ω Sustrato de recuperación ficticia Imaxe destacada

Breve descrición:

Gran inventario de obleas pulidas de dobre cara, todas as obleas de 50 a 400 mm de diámetro Se a súa especificación non está dispoñible no noso inventario, establecemos relacións a longo prazo con moitos provedores que son capaces de fabricar obleas a medida para adaptarse a calquera especificación única. As obleas pulidas de dobre cara pódense usar para silicio, vidro e outros materiais de uso habitual na industria de semicondutores.

Envíanos un correo electrónico

Detalle do produto

Etiquetas de produtos

Introdución da caixa de obleas

A oblea de silicio de 8 polgadas é un material de substrato de silicio de uso común e úsase amplamente no proceso de fabricación de circuítos integrados. Tales obleas de silicio úsanse habitualmente para facer varios tipos de circuítos integrados, incluíndo microprocesadores, chips de memoria, sensores e outros dispositivos electrónicos. As obleas de silicio de 8 polgadas úsanse habitualmente para facer chips de tamaños relativamente grandes, con vantaxes que inclúen unha maior superficie e a capacidade de facer máis chips nunha única oblea de silicio, o que leva a unha maior eficiencia de produción. A oblea de silicio de 8 polgadas tamén ten boas propiedades mecánicas e químicas, que son adecuadas para a produción de circuítos integrados a gran escala.

Características do produto

8" tipo P/N, oblea de silicona pulida (25 unidades)

Orientación: 200

Resistividad: 0,1 - 40 ohm•cm (pode variar de lote a lote)

Espesor: 725 +/-20um

Prime/Monitor/Grado de proba

PROPIEDADES MATERIAIS

Parámetro	Característica
Tipo/Dopante	P, Boro N, Fósforo N, Antimonio N, Arsénico
Orientacións	<100>, <111> separa as orientacións segundo as especificacións do cliente
Contido de osíxeno	10¹⁹ppmA Tolerancias personalizadas segundo a especificación do cliente
Contido de carbono	< 0,6 ppmA

PROPIEDADES MECÁNICAS

Parámetro	Primeiro	Monitor/Proba A	Proba
Diámetro	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Espesor	725 ± 20 µm (estándar)	725 ± 25 µm (estándar) 450 ± 25 µm 625 ± 25 µm 1000 ± 25 µm 1300 ± 25 µm 1500 ± 25 µm	725 ± 50 µm (estándar)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Proa	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Envolver	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Redondeo de bordes	SEMI-STD
Marcado	Só SEMI-Plana primaria, Flats SEMI-STD Jeida Flat, Notch

Parámetro	Primeiro	Monitor/Proba A	Proba
Criterios do lado frontal
Estado da superficie	Pulido Química Mecánica	Pulido Química Mecánica	Pulido Química Mecánica
Rugosidade superficial	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Contaminación Partículas @ > 0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Bruma, pozos Casca de laranxa	Ningún	Ningún	Ningún
Serra, Marks Estriacións	Ningún	Ningún	Ningún
Criterios do lado traseiro
Gretas, patas de gallo, marcas de serra, manchas	Ningún	Ningún	Ningún
Estado da superficie	Gravado cáustico