Oblea de silicio de 8 polgadas tipo P/N (100) substrato de recuperación ficticio de 1-100 Ω

Descrición curta:

Amplo inventario de obleas puídas de dobre cara, todas as obleas de 50 a 400 mm de diámetro. Se a súa especificación non está dispoñible no noso inventario, establecemos relacións a longo prazo con moitos provedores que poden fabricar obleas personalizadas que se axusten a calquera especificación única. As obleas puídas de dobre cara pódense usar para silicio, vidro e outros materiais que se usan habitualmente na industria dos semicondutores.


Características

Introdución da caixa de obleas

A oblea de silicio de 8 polgadas é un material de substrato de silicio de uso común e utilízase amplamente no proceso de fabricación de circuítos integrados. Estas obleas de silicio úsanse habitualmente para fabricar varios tipos de circuítos integrados, incluíndo microprocesadores, chips de memoria, sensores e outros dispositivos electrónicos. As obleas de silicio de 8 polgadas úsanse habitualmente para fabricar chips de tamaños relativamente grandes, con vantaxes como unha maior superficie e a capacidade de fabricar máis chips nunha soa oblea de silicio, o que leva a unha maior eficiencia da produción. A oblea de silicio de 8 polgadas tamén ten boas propiedades mecánicas e químicas, o que as fai axeitadas para a produción de circuítos integrados a grande escala.

Características do produto

Oblea de silicio pulida de 8" tipo P/N (25 unidades)

Orientación: 200

Resistividade: 0,1 - 40 ohm•cm (Pode variar dun lote a outro)

Grosor: 725 +/- 20 µm

Primeiro/Monitor/Cualificación de proba

PROPIEDADES DOS MATERIAIS

Parámetro Característica
Tipo/Dopante P, N de boro, N de fósforo, N de antimonio, Arsénico
Orientacións <100>, <111> orientacións de corte segundo as especificacións do cliente
contido de osíxeno 1019Tolerancias personalizadas de ppmA segundo as especificacións do cliente
contido de carbono < 0,6 ppmA

PROPIEDADES MECÁNICAS

Parámetro Primeiro Monitor/Proba A Proba
Diámetro 200 ± 0,2 mm 200 ± 0,2 mm 200 ± 0,5 mm
Espesor 725 ± 20 µm (estándar) 725 ± 25 µm (estándar) 450 ± 25 µm

625 ± 25 µm

1000 ± 25 µm

1300 ± 25 µm

1500 ± 25 µm

725 ± 50 µm (estándar)
TVG < 5 µm < 10 µm < 15 µm
Arco < 30 µm < 30 µm < 50 µm
Envoltura < 30 µm < 30 µm < 50 µm
Redondeo de bordos SEMI-ESTÁNDAR
Marcado Só SEMI-Planos primarios, SEMI-Planos estándar Jeida Plano, con muesca
Parámetro Primeiro Monitor/Proba A Proba
Criterios da parte frontal
Condición da superficie Pulido químico-mecánico Pulido químico-mecánico Pulido químico-mecánico
Rugosidade da superficie < 2 A° < 2 A° < 2 A°
Contaminación

Partículas a >0,3 µm

= 20 = 20 = 30
Néboa, pozos

Pela de laranxa

Ningún Ningún Ningún
Serra, Marcas

Estrías

Ningún Ningún Ningún
Criterios do reverso
Gretas, patas de galiña, marcas de serra, manchas Ningún Ningún Ningún
Condición da superficie Gravado cáustico

Diagrama detallado

IMG_1463 (1)
IMG_1463 (2)
IMG_1463 (3)

  • Anterior:
  • Seguinte:

  • Escribe aquí a túa mensaxe e envíanosla