SSP/DSP de plano C con oblea de zafiro de 12 polgadas

Descrición curta:

Elemento Especificación
Diámetro 2 polgadas 4 polgadas 6 polgadas 8 polgadas 12 polgadas
Material Zafiro artificial (Al2O3 ≥ 99,99%)
Espesor 430 ± 15 μm 650 ± 15 μm 1300 ± 20 μm 1300 ± 20 μm 3000 ± 20 μm
Superficie
orientación
plano c(0001)
Lonxitude DE 16 ± 1 mm 30 ± 1 mm 47,5 ± 2,5 mm 47,5 ± 2,5 mm *negociable
Orientación de OF plano a 0±0,3°
TVT * ≦10 μm ≦10 μm ≦15 μm ≦15 μm *negociable
ARCO * -10 ~ 0 μm -15 ~ 0 μm -20 ~ 0 μm -25 ~ 0 μm *negociable
Deformación * ≦15 μm ≦20 μm ≦25 μm ≦30 μm *negociable
Lado frontal
acabado
Listo para Epi (Ra <0,3 nm)
Parte traseira
acabado
Solpado (Ra 0,6 – 1,2 μm)
Envasado Envasado ao baleiro en sala limpa
Grao principal Limpeza de alta calidade: tamaño de partícula ≧ 0,3 µm), ≦ 0,18 unidades/cm2, contaminación metálica ≦ 2E10/cm2
Observacións Especificacións personalizables: orientación do plano a/r/m, ángulo desprazado, forma, pulido de dobre cara

Características

Diagrama detallado

IMG_
IMG_(1)

Introdución a Sapphire

A oblea de zafiro é un substrato monocristalino feito de óxido de aluminio sintético de alta pureza (Al₂O₃). Os cristais de zafiro grandes cultívanse mediante métodos avanzados como o Kyropoulos (KY) ou o método de intercambio de calor (HEM) e logo procésanse mediante corte, orientación, moenda e pulido de precisión. Debido ás súas excepcionais propiedades físicas, ópticas e químicas, a oblea de zafiro desempeña un papel irremplazable nos campos dos semicondutores, a optoelectrónica e a electrónica de consumo de alta gama.

IMG_0785_副本

Métodos convencionais de síntese de zafiro

Método Principio Vantaxes Principais aplicacións
Método de Verneuil(Fusión de chamas) O po de Al₂O₃ de alta pureza fúndese nunha chama oxihidróxena, as gotas solidifícanse capa por capa sobre unha semente. Baixo custo, alta eficiencia, proceso relativamente sinxelo Zafiros de calidade de xema, materiais ópticos primitivos
Método de Czochralski (CZ) O Al₂O₃ fúndese nun crisol e un cristal semente é erguido lentamente cara arriba para que o cristal medre. Produce cristais relativamente grandes con boa integridade Cristais láser, fiestras ópticas
Método Kyropoulos (KY) O arrefriamento lento controlado permite que o cristal creza gradualmente dentro do crisol Capaz de cultivar cristais de gran tamaño e baixo estrés (decenas de quilogramos ou máis) substratos LED, pantallas de teléfonos intelixentes, compoñentes ópticos
Método HEM(Intercambio de calor) O arrefriamento comeza desde a parte superior do crisol, os cristais medran cara abaixo desde a semente Produce cristais moi grandes (ata centos de quilogramos) con calidade uniforme Grandes fiestras ópticas, aeroespacial, óptica militar
1
2
3
4

Orientación do cristal

Orientación / Plano Índice de Miller Características Principais aplicacións
Plano C (0001) Perpendicular ao eixe c, superficie polar, átomos dispostos uniformemente LED, díodos láser, substratos epitaxiais de GaN (os máis empregados)
Plano A (11-20) Paralela ao eixe c, superficie non polar, evita os efectos de polarización Epitaxia de GaN non polar, dispositivos optoelectrónicos
Plano M (10-10) Paralelo ao eixe c, non polar, alta simetría Epitaxia de GaN de alto rendemento, dispositivos optoelectrónicos
Plano R (1-102) Inclinado ao eixe c, excelentes propiedades ópticas Fiestras ópticas, detectores infravermellos, compoñentes láser

 

orientación do cristal

Especificación da oblea de zafiro (personalizable)

Elemento Obleas de zafiro de 430 μm e plano C de 1 polgada (0001)
Materiais cristalinos 99,999 %, alta pureza, Al2O3 monocristalino
Grao Prime, Epi-Ready
Orientación da superficie Plano C(0001)
Plano C fóra do ángulo con respecto ao eixe M 0,2 +/- 0,1°
Diámetro 25,4 mm +/- 0,1 mm
Espesor 430 μm +/- 25 μm
Pulido a un só lado Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(SSP) Superficie traseira Molido fino, Ra = 0,8 μm a 1,2 μm
Pulido por dobre cara Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(DSP) Superficie traseira Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
TVG < 5 μm
ARCO < 5 μm
URPIÓN < 5 μm
Limpeza / Embalaxe Limpeza de salas limpas e envasado ao baleiro de clase 100,
25 pezas nunha embalaxe de casete ou nunha embalaxe dunha soa peza.

 

Elemento Obleas de zafiro de 2 polgadas de plano C (0001) e 430 μm
Materiais cristalinos 99,999 %, alta pureza, Al2O3 monocristalino
Grao Prime, Epi-Ready
Orientación da superficie Plano C(0001)
Plano C fóra do ángulo con respecto ao eixe M 0,2 +/- 0,1°
Diámetro 50,8 mm +/- 0,1 mm
Espesor 430 μm +/- 25 μm
Orientación plana primaria Plano A (11-20) +/- 0,2°
Lonxitude plana primaria 16,0 mm +/- 1,0 mm
Pulido a un só lado Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(SSP) Superficie traseira Molido fino, Ra = 0,8 μm a 1,2 μm
Pulido por dobre cara Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(DSP) Superficie traseira Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
TVG < 10 μm
ARCO < 10 μm
URPIÓN < 10 μm
Limpeza / Embalaxe Limpeza de salas limpas e envasado ao baleiro de clase 100,
25 pezas nunha embalaxe de casete ou nunha embalaxe dunha soa peza.
Elemento Obleas de zafiro de 3 polgadas de plano C (0001) e 500 μm
Materiais cristalinos 99,999 %, alta pureza, Al2O3 monocristalino
Grao Prime, Epi-Ready
Orientación da superficie Plano C(0001)
Plano C fóra do ángulo con respecto ao eixe M 0,2 +/- 0,1°
Diámetro 76,2 mm +/- 0,1 mm
Espesor 500 μm +/- 25 μm
Orientación plana primaria Plano A (11-20) +/- 0,2°
Lonxitude plana primaria 22,0 mm +/- 1,0 mm
Pulido a un só lado Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(SSP) Superficie traseira Molido fino, Ra = 0,8 μm a 1,2 μm
Pulido por dobre cara Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(DSP) Superficie traseira Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
TVG < 15 μm
ARCO < 15 μm
URPIÓN < 15 μm
Limpeza / Embalaxe Limpeza de salas limpas e envasado ao baleiro de clase 100,
25 pezas nunha embalaxe de casete ou nunha embalaxe dunha soa peza.
Elemento Obleas de zafiro de 4 polgadas con plano C (0001) e 650 μm
Materiais cristalinos 99,999 %, alta pureza, Al2O3 monocristalino
Grao Prime, Epi-Ready
Orientación da superficie Plano C(0001)
Plano C fóra do ángulo con respecto ao eixe M 0,2 +/- 0,1°
Diámetro 100,0 mm +/- 0,1 mm
Espesor 650 μm +/- 25 μm
Orientación plana primaria Plano A (11-20) +/- 0,2°
Lonxitude plana primaria 30,0 mm +/- 1,0 mm
Pulido a un só lado Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(SSP) Superficie traseira Molido fino, Ra = 0,8 μm a 1,2 μm
Pulido por dobre cara Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(DSP) Superficie traseira Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
TVG < 20 μm
ARCO < 20 μm
URPIÓN < 20 μm
Limpeza / Embalaxe Limpeza de salas limpas e envasado ao baleiro de clase 100,
25 pezas nunha embalaxe de casete ou nunha embalaxe dunha soa peza.
Elemento Obleas de zafiro de 1300 μm e plano C de 6 polgadas (0001)
Materiais cristalinos 99,999 %, alta pureza, Al2O3 monocristalino
Grao Prime, Epi-Ready
Orientación da superficie Plano C(0001)
Plano C fóra do ángulo con respecto ao eixe M 0,2 +/- 0,1°
Diámetro 150,0 mm +/- 0,2 mm
Espesor 1300 μm +/- 25 μm
Orientación plana primaria Plano A (11-20) +/- 0,2°
Lonxitude plana primaria 47,0 mm +/- 1,0 mm
Pulido a un só lado Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(SSP) Superficie traseira Molido fino, Ra = 0,8 μm a 1,2 μm
Pulido por dobre cara Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(DSP) Superficie traseira Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
TVG < 25 μm
ARCO < 25 μm
URPIÓN < 25 μm
Limpeza / Embalaxe Limpeza de salas limpas e envasado ao baleiro de clase 100,
25 pezas nunha embalaxe de casete ou nunha embalaxe dunha soa peza.
Elemento Obleas de zafiro de 8 polgadas con plano C (0001) e 1300 μm
Materiais cristalinos 99,999 %, alta pureza, Al2O3 monocristalino
Grao Prime, Epi-Ready
Orientación da superficie Plano C(0001)
Plano C fóra do ángulo con respecto ao eixe M 0,2 +/- 0,1°
Diámetro 200,0 mm +/- 0,2 mm
Espesor 1300 μm +/- 25 μm
Pulido a un só lado Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(SSP) Superficie traseira Molido fino, Ra = 0,8 μm a 1,2 μm
Pulido por dobre cara Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(DSP) Superficie traseira Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
TVG < 30 μm
ARCO < 30 μm
URPIÓN < 30 μm
Limpeza / Embalaxe Limpeza de salas limpas e envasado ao baleiro de clase 100,
Envasado dunha soa peza.

 

Elemento Obleas de zafiro de 12 polgadas de plano C (0001) e 1300 μm
Materiais cristalinos 99,999 %, alta pureza, Al2O3 monocristalino
Grao Prime, Epi-Ready
Orientación da superficie Plano C(0001)
Plano C fóra do ángulo con respecto ao eixe M 0,2 +/- 0,1°
Diámetro 300,0 mm +/- 0,2 mm
Espesor 3000 μm +/- 25 μm
Pulido a un só lado Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(SSP) Superficie traseira Molido fino, Ra = 0,8 μm a 1,2 μm
Pulido por dobre cara Superficie frontal Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
(DSP) Superficie traseira Epipulido, Ra < 0,2 nm (mediante AFM)
TVG < 30 μm
ARCO < 30 μm
URPIÓN < 30 μm

 

Proceso de produción de obleas de zafiro

  1. Crecemento de cristal

    • Cultivar bolas de zafiro (100–400 kg) usando o método Kyropoulos (KY) en fornos de crecemento de cristais dedicados.

  2. Perforación e conformado de lingotes

    • Usa un barril de perforación para procesar a bóla en lingotes cilíndricos con diámetros de 2 a 6 polgadas e lonxitudes de 50 a 200 mm.

  3. Primeiro recocido

    • Inspeccionar os lingotes para detectar defectos e realizar o primeiro recocido a alta temperatura para aliviar a tensión interna.

  4. Orientación do cristal

    • Determinar a orientación precisa do lingote de zafiro (por exemplo, plano C, plano A, plano R) empregando instrumentos de orientación.

  5. Corte con serra multifío

    • Corte o lingote en obleas finas segundo o grosor requirido usando un equipo de corte multifío.

  6. Inspección inicial e segundo recocido

    • Inspeccionar as obleas tal e como foron cortadas (grosor, planitude, defectos superficiais).

    • Realizar o recocido de novo se é necesario para mellorar aínda máis a calidade do cristal.

  7. Achaflanado, rectificado e pulido CMP

    • Realizar biselado, rectificado superficial e pulido químico-mecánico (CMP) con equipos especializados para obter superficies de calidade especular.

  8. Limpeza

    • Limpe as obleas a fondo con auga ultrapura e produtos químicos nun ambiente de sala limpa para eliminar partículas e contaminantes.

  9. Inspección óptica e física

    • Realizar a detección de transmitancia e rexistrar datos ópticos.

    • Mida os parámetros da oblea, incluíndo a TTV (variación total do grosor), a curvatura, a deformación, a precisión da orientación e a rugosidade da superficie.

  10. Revestimento (opcional)

  • Aplicar revestimentos (por exemplo, revestimentos AR, capas protectoras) segundo as especificacións do cliente.

  1. Inspección final e embalaxe

  • Realizar unha inspección de calidade do 100 % nunha sala limpa.

  • Embale as obleas en caixas de cassete en condicións de limpeza de Clase 100 e sélleas ao baleiro antes do envío.

20230721140133_51018

Aplicacións das obleas de zafiro

As obleas de zafiro, coa súa dureza excepcional, a súa excelente transmitancia óptica, o seu excelente rendemento térmico e o seu illamento eléctrico, aplícanse amplamente en múltiples industrias. As súas aplicacións non só abarcan as industrias tradicionais de LED e optoelectrónica, senón que tamén se están expandindo aos semicondutores, á electrónica de consumo e aos campos avanzados da aeroespacial e da defensa.


1. Semicondutores e optoelectrónica

Substratos LED
As obleas de zafiro son os substratos principais para o crecemento epitaxial de nitruro de galio (GaN), amplamente utilizados en LED azuis, LED brancos e tecnoloxías Mini/Micro LED.

Diodos láser (LD)
Como substratos para díodos láser baseados en GaN, as obleas de zafiro apoian o desenvolvemento de dispositivos láser de alta potencia e longa vida útil.

Fotodetectores
Nos fotodetectores ultravioleta e infravermello, as obleas de zafiro úsanse a miúdo como fiestras transparentes e substratos illantes.


2. Dispositivos semicondutores

RFIC (circuítos integrados de radiofrecuencia)
Grazas ao seu excelente illamento eléctrico, as obleas de zafiro son substratos ideais para dispositivos de microondas de alta frecuencia e alta potencia.

Tecnoloxía de silicio sobre zafiro (SoS)
Mediante a aplicación da tecnoloxía SoS, pódese reducir considerablemente a capacitancia parasitaria, o que mellora o rendemento do circuíto. Isto úsase amplamente nas comunicacións de radiofrecuencia e na electrónica aeroespacial.


3. Aplicacións ópticas

Fiestras ópticas infravermellas
Cunha alta transmitancia no rango de lonxitudes de onda de 200 nm a 5000 nm, o zafiro úsase amplamente en detectores de infravermellos e sistemas de guía infravermellos.

Fiestras láser de alta potencia
A dureza e a resistencia térmica do zafiro convérteno nun material excelente para fiestras e lentes protectoras en sistemas láser de alta potencia.


4. Electrónica de consumo

Cubertas para lentes de cámara
A alta dureza do zafiro garante resistencia aos arañazos nas lentes de teléfonos intelixentes e cámaras.

Sensores de impresión dixital
As obleas de zafiro poden servir como cubertas transparentes e duradeiras que melloran a precisión e a fiabilidade no recoñecemento de impresións dixitais.

Reloxos intelixentes e pantallas premium
As pantallas de zafiro combinan a resistencia aos arañazos cunha alta claridade óptica, o que as fai populares en produtos electrónicos de alta gama.


5. Aeroespacial e Defensa

Cúpulas infravermellas para mísiles
As fiestras de zafiro permanecen transparentes e estables en condicións de alta temperatura e alta velocidade.

Sistemas ópticos aeroespaciais
Úsanse en fiestras ópticas de alta resistencia e equipos de observación deseñados para ambientes extremos.

20240805153109_20914

Outros produtos comúns de zafiro

Produtos ópticos

  • Fiestras ópticas de zafiro

    • Úsase en láseres, espectrómetros, sistemas de imaxe infravermella e fiestras de sensores.

    • Rango de transmisión:UV 150 nm a IR medio 5,5 μm.

  • Lentes de zafiro

    • Aplicado en sistemas láser de alta potencia e óptica aeroespacial.

    • Pódense fabricar como lentes convexas, cóncavas ou cilíndricas.

  • Prismas de zafiro

    • Usado en instrumentos de medición óptica e sistemas de imaxe de precisión.

u11_ph01
u11_ph02

Aeroespacial e Defensa

  • Cúpulas de zafiro

    • Protexer os buscadores infravermellos en mísiles, UAV e aeronaves.

  • Cubertas protectoras de zafiro

    • Resiste o impacto do fluxo de aire a alta velocidade e ambientes hostiles.

17

Envasado do produto

IMG_0775_副本
_cgi-bin_mmwebwx-bin_webwxgetmsgimg__&MsgID=871015041831747236&skey=@crypt_5be9fd73_3c2da10f381656c71b8a6fcc3900aedc&mmweb_appid=wx_webfilehelper

Sobre XINKEHUI

Shanghai Xinkehui New Material Co., Ltd. é unha dasmaior provedor de óptica e semicondutores da China, fundada en 2002. XKH foi desenvolvida para proporcionar aos investigadores académicos obleas e outros materiais e servizos científicos relacionados cos semicondutores. Os materiais semicondutores son o noso principal negocio, o noso equipo baséase na tecnicidade, dende a súa creación, XKH está profundamente involucrada na investigación e desenvolvemento de materiais electrónicos avanzados, especialmente no campo de diversas obleas/substratos.

456789

Socios

Coa súa excelente tecnoloxía de materiais semicondutores, Shanghai Zhimingxin converteuse nun socio de confianza das principais empresas mundiais e das institucións académicas de renome. Coa súa persistencia na innovación e a excelencia, Zhimingxin estableceu profundas relacións de cooperación con líderes da industria como Schott Glass, Corning e Seoul Semiconductor. Estas colaboracións non só melloraron o nivel técnico dos nosos produtos, senón que tamén promoveron o desenvolvemento tecnolóxico nos campos da electrónica de potencia, os dispositivos optoelectrónicos e os dispositivos semicondutores.

Ademais da cooperación con empresas recoñecidas, Zhimingxin tamén estableceu relacións de cooperación en investigación a longo prazo con universidades de renome de todo o mundo, como a Universidade de Harvard, o University College London (UCL) e a Universidade de Houston. A través destas colaboracións, Zhimingxin non só proporciona apoio técnico para proxectos de investigación científica no ámbito académico, senón que tamén participa no desenvolvemento de novos materiais e innovación tecnolóxica, garantindo que esteamos sempre á vangarda da industria dos semicondutores.

Mediante unha estreita cooperación con estas empresas e institucións académicas de renome mundial, Shanghai Zhimingxin continúa a promover a innovación e o desenvolvemento tecnolóxico, proporcionando produtos e solucións de primeira clase para satisfacer as crecentes necesidades do mercado global.

未命名的设计

  • Anterior:
  • Seguinte:

  • Escribe aquí a túa mensaxe e envíanosla