Oblea epitaxial de nitruro de galio de 100 mm e 4 polgadas de GaN sobre zafiro
O proceso de crecemento da estrutura de pozo cuántico do LED azul de GaN. O fluxo detallado do proceso é o seguinte.
(1) Cocción a alta temperatura, o substrato de zafiro quéntase primeiro a 1050 ℃ nunha atmosfera de hidróxeno, o propósito é limpar a superficie do substrato;
(2) Cando a temperatura do substrato baixa a 510 ℃, deposítase unha capa tampón de GaN/AlN a baixa temperatura cun grosor de 30 nm na superficie do substrato de zafiro;
(3) Aumento da temperatura a 10 ℃, inxéctase o gas de reacción amoníaco, trimetilgalio e silano, controlando respectivamente o caudal correspondente, e faise medrar o GaN de tipo N dopado con silicio de 4 um de espesor;
(4) O gas de reacción de trimetilaluminio e trimetilgalio empregouse para preparar continentes A⒑ de tipo N dopados con silicio cun grosor de 0,15 µm;
(5) Preparouse InGaN dopado con Zn a 50 nm inxectando trimetilgalio, trimetilindio, dietilcinco e amoníaco a unha temperatura de 800 ℃ e controlando diferentes caudais respectivamente;
(6) Aumentouse a temperatura a 1020 ℃, inxectáronse trimetilaluminio, trimetilgalio e bis(ciclopentadienil)magnesio para preparar AlGaN de tipo P dopado con 0,15 µm de Mg e glicosa no sangue de tipo P G dopado con 0,5 µm de Mg;
(7) Obtivose unha película de Sibuyan de GaN tipo P de alta calidade mediante recocido en atmosfera de nitróxeno a 700 ℃;
(8) Gravado na superficie de estase G de tipo P para revelar a superficie de estase G de tipo N;
(9) Evaporación das placas de contacto de Ni/Au na superficie de p-GaNI, evaporación das placas de contacto de △/Al na superficie de ll-GaN para formar eléctrodos.
Especificacións
Elemento | GaN-TCU-C100 | GaN-TCN-C100 |
Dimensións | e 100 mm ± 0,1 mm | |
Espesor | 4,5 ± 0,5 µm Pódese personalizar | |
Orientación | Plano C(0001) ±0,5° | |
Tipo de condución | Tipo N (sen dopar) | Tipo N (dopado con Si) |
Resistividade (300K) | < 0,5 Q・cm | < 0,05 Q・cm |
Concentración do portador | < 5x1017centímetros-3 | > 1x1018centímetros-3 |
Mobilidade | ~ 300 centímetros2/Vs | ~ 200 centímetros2/Vs |
Densidade de dislocacións | Menos de 5x108centímetros-2(calculado por FWHMs de XRD) | |
Estrutura do substrato | GaN en zafiro (estándar: opción SSP: DSP) | |
Superficie útil | > 90% | |
Paquete | Envasado nun ambiente de sala limpa de clase 100, en casetes de 25 unidades ou en recipientes de obleas individuais, baixo atmosfera de nitróxeno. |
Diagrama detallado


