Oblea epitaxial de nitruro de galio de 100 mm e 4 polgadas de GaN sobre zafiro

Descrición curta:

A folla epitaxial de nitruro de galio é un representante típico da terceira xeración de materiais epitaxiais semicondutores de banda ancha, que ten excelentes propiedades como banda ancha, alta intensidade de campo de ruptura, alta condutividade térmica, alta velocidade de deriva de saturación de electróns, forte resistencia á radiación e alta estabilidade química.


Detalle do produto

Etiquetas do produto

O proceso de crecemento da estrutura de pozo cuántico do LED azul de GaN. O fluxo detallado do proceso é o seguinte.

(1) Cocción a alta temperatura, o substrato de zafiro quéntase primeiro a 1050 ℃ nunha atmosfera de hidróxeno, o propósito é limpar a superficie do substrato;

(2) Cando a temperatura do substrato baixa a 510 ℃, deposítase unha capa tampón de GaN/AlN a baixa temperatura cun grosor de 30 nm na superficie do substrato de zafiro;

(3) Aumento da temperatura a 10 ℃, inxéctase o gas de reacción amoníaco, trimetilgalio e silano, controlando respectivamente o caudal correspondente, e faise medrar o GaN de tipo N dopado con silicio de 4 um de espesor;

(4) O gas de reacción de trimetilaluminio e trimetilgalio empregouse para preparar continentes A⒑ de tipo N dopados con silicio cun grosor de 0,15 µm;

(5) Preparouse InGaN dopado con Zn a 50 nm inxectando trimetilgalio, trimetilindio, dietilcinco e amoníaco a unha temperatura de 800 ℃ e controlando diferentes caudais respectivamente;

(6) Aumentouse a temperatura a 1020 ℃, inxectáronse trimetilaluminio, trimetilgalio e bis(ciclopentadienil)magnesio para preparar AlGaN de tipo P dopado con 0,15 µm de Mg e glicosa no sangue de tipo P G dopado con 0,5 µm de Mg;

(7) Obtivose unha película de Sibuyan de GaN tipo P de alta calidade mediante recocido en atmosfera de nitróxeno a 700 ℃;

(8) Gravado na superficie de estase G de tipo P para revelar a superficie de estase G de tipo N;

(9) Evaporación das placas de contacto de Ni/Au na superficie de p-GaNI, evaporación das placas de contacto de △/Al na superficie de ll-GaN para formar eléctrodos.

Especificacións

Elemento

GaN-TCU-C100

GaN-TCN-C100

Dimensións

e 100 mm ± 0,1 mm

Espesor

4,5 ± 0,5 µm Pódese personalizar

Orientación

Plano C(0001) ±0,5°

Tipo de condución

Tipo N (sen dopar)

Tipo N (dopado con Si)

Resistividade (300K)

< 0,5 Q・cm

< 0,05 Q・cm

Concentración do portador

< 5x1017centímetros-3

> 1x1018centímetros-3

Mobilidade

~ 300 centímetros2/Vs

~ 200 centímetros2/Vs

Densidade de dislocacións

Menos de 5x108centímetros-2(calculado por FWHMs de XRD)

Estrutura do substrato

GaN en zafiro (estándar: opción SSP: DSP)

Superficie útil

> 90%

Paquete

Envasado nun ambiente de sala limpa de clase 100, en casetes de 25 unidades ou en recipientes de obleas individuais, baixo atmosfera de nitróxeno.

Diagrama detallado

WechatIMG540_
WechatIMG540_
vav

  • Anterior:
  • Seguinte:

  • Escribe aquí a túa mensaxe e envíanosla